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固體電介質的擊穿理論:電擊穿、熱擊穿、電化學擊穿

更新時間:2024-08-19      點擊次數(shù):3146

固體電介質的擊穿

與氣體、液體電介質相比較,固體電介質的擊穿特性有很大不同,主要表現(xiàn)為以下兩點:①固體電介質的耐電強度比氣體和液體電介質高,空氣的耐電強度一般為3~4kV/mm,液體的耐電強度為10~20kV/mm,而固體的耐電強度在十幾至百kV/mm;②周體電介質的擊穿過程最復雜, 且擊穿后其絕緣性能不可恢復。固體電介質擊穿后會出現(xiàn)燒焦或熔化的通道、裂縫等,即使去掉外施電壓,也不能像氣體、液體電介質那樣恢復絕緣性能,屬于非自恢復絕緣。



固體電介質的擊穿理論

固體電介質的擊穿與電壓作用時間有很大的關系,如圖3-21所示,并且隨電壓作用時間的不同,固體電介質的擊穿有電擊穿、熱擊穿和電化學擊穿三種不同的形式。

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1. 電擊穿 電化學擊穿

固體電介質的電擊穿理論與氣體的擊穿相似,它是建立在電介質內(nèi)部發(fā)生碰撞游離的基礎上的。認為是在強電場作用下,電介質內(nèi)部少量的帶電質點劇烈運動,發(fā)生碰撞游離形成電子崩,當電子崩足夠強時,破壞了固體電介質的晶格結構導致?lián)舸?/span>

電擊穿的主要特點:電壓作用時間短,擊穿電壓高,擊穿電壓與環(huán)境溫度、散熱條件、頻率等因素無關,但是與電場均勻度關系很大。此外和介質特性也有很大關系,如果介質中有氣孔或其他缺陷,電場會產(chǎn)生畸變,從而導致介質擊穿電壓降低。

2.熱擊穿

對于固體電介質的熱擊穿,很多學者都做過實驗和理論研究,然而要定量進行討論卻十分復雜。下面介紹簡單實用的瓦格納熱擊穿理論。

瓦格納熱擊穿模型如圖 3-22所示,假設固體介質置于平板電極a與b之間,該介質有一處或幾處的電陽比其周圍小得多,構成電介質中的低阻導電通道。如通道的橫截面積為S,長度為d,電導率為γ,當加上直流電壓U后電流便主要集中在這導電通道內(nèi),則每秒鐘內(nèi)導電通道由于電流通過而產(chǎn)生的熱量為

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每秒鐘由導電通道向周圍介質散出的熱量與通道長度d、通道平均溫度T與周圍介質溫度T0的溫度差(T-T0)成正比,即散熱量為

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式中:β為散熱系數(shù)。電介質導電通道的電導率γ與溫度的關系為

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式中:γ0為導電電通道在溫度T0時的電導率;α為溫度系數(shù)。

由上可知,γ是溫度的函數(shù),所以發(fā)熱量Q1也是溫度的函數(shù),因此對于不同的電壓值U,Q1與T的關系是一族指數(shù)曲線,如圖3-23所示。曲線1、2、3分別為電源U1、U2、U3(U1>U2>U3)作用下,介質發(fā)熱量與介質導電通道溫度的關系。而散熱量Q2與溫度差(T-T0)成正比,如圖中曲線4所示。

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從圖3-23可看出,曲線1高于曲線4,固體介質內(nèi)發(fā)熱量Q1總是大于散熱量Q2,在任何溫度下都不會達到熱平衡,電介質的溫度將不斷地升高,最后導致介質熱擊穿。曲線3與曲線4有兩個交點,Q1=Q2。由于發(fā)熱量等于散熱量,此兩點稱為熱平衡點,a點是穩(wěn)定的熱平衡點,b點是不穩(wěn)定的熱平衡點。因而電介質被加熱到通道溫度為Ta就停留在熱穩(wěn)定狀態(tài)。曲線2與曲線4相切,切點c是個不穩(wěn)定的熱平衡點。因為當導電通道溫度T<Tc時,電介質發(fā)熱量大于散熱量,溫度將上升到Tc。而當T>Tc時,發(fā)熱量也大于散熱量,導電通道的溫度將不斷上升,導致熱擊穿??梢?,曲線2是介質熱穩(wěn)定狀態(tài)和不穩(wěn)定狀態(tài)的分界線,所以電壓U2確定為熱擊穿的臨界電壓,Tc為熱擊穿的臨界溫度。相應于切點c的熱擊穿臨界電壓:

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熱擊穿的主要特點:發(fā)生熱擊穿時,介質溫度尤其是熱擊穿通道處的溫度特別高,熱擊穿電壓隨環(huán)境溫度的升高呈指數(shù)規(guī)律下降,隨外施電壓作用時間的增長而下降,隨外施電壓頻率的增高而下降。周圍媒質的散熱條件越差,熱擊穿電壓越低,固體電介質的厚度增加或其tanδ增大都會使介質發(fā)熱量增大,導致熱擊穿電壓下降。

3.電化學擊穿(電老化)

電介質在運行中長期受到電、熱、化學和機械力等作用,使其物理、化學性能發(fā)生不可逆的劣化,最終導致?lián)舸?,這種過程稱為電化學擊穿。電化學擊穿是一個復雜的緩慢過程,是電介質內(nèi)部和邊緣處存在的氣泡、氣隙長期在工作電壓作用下發(fā)生電暈或局部放電,產(chǎn)生臭氧、二氧化氮等氣體,氧化、腐蝕絕緣,產(chǎn)生熱量,增大局部電導和介質損耗,甚至造成局部燒焦絕緣以及氣體游離,產(chǎn)生帶電質點撞擊、破壞絕緣等綜合作用的結果。所有這些情況都將導致絕緣劣化、擊穿強度下降,以致在長時期電壓作用下發(fā)生熱擊穿,或者在短時過電壓作用下發(fā)生電擊穿。電化學擊穿是固體電介質在電壓長期作用下劣化、老化而引起的,它與固體電介質本身的制造工藝、工作條件等有密切關系,并且電化學擊穿的擊穿電壓比電擊穿和熱擊穿更低,甚至在工作電壓下就可能發(fā)生。所以對固體電介質的電化學擊穿應引起足夠的重視。

 

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