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介電常數(shù)與介質損耗因數(shù)試驗機的技術原理與核心指標

更新時間:2025-03-28      點擊次數(shù):127


介電常數(shù)介質損耗因數(shù)試驗機是評估絕緣材料介電性能的關鍵設備,廣泛應用于電力、電子及材料科學領域。其核心技術在于通過高頻電場激勵被測介質,量化其極化效應與能量損耗特性,為材料絕緣性能分析提供依據(jù)。

核心工作原理

設備基于電橋法或諧振法構建測量系統(tǒng)。以電橋法為例,通過平衡被測介質與標準電容的阻抗差異,利用高頻信號源(1kHz~1MHz)施加正弦電壓,測量介質在交變電場下的電流相位差。介電常數(shù)(ε)由介質電容與真空電容的比值確定,計算公式為ε = Cx / C0(Cx為介質電容,C0為真空等效電容)。介質損耗因數(shù)(tanδ)則由有功功率與無功功率的比值計算得出,反映介質極化過程的能量損耗。

關鍵技術指標

1. 頻率范圍:覆蓋10Hz~100MHz,需具備多頻點掃描功能以適應不同材料測試標準(如IEC 60250);

2. 電壓精度:輸出交流電壓0.1~5kV,波動率≤±0.5%,確保電場穩(wěn)定性;

3. 測量分辨率:介電常數(shù)誤差≤±0.5%,損耗因數(shù)靈敏度達1×10??;

4. 溫控系統(tǒng):內置-40℃~200℃環(huán)境倉,溫度偏差±1℃,消除溫漂對介電參數(shù)的影響;

5. 電極系統(tǒng):采用三電極結構,接觸電阻≤10mΩ,滿足ASTM D150對邊緣場修正的要求。

測試流程優(yōu)化

設備采用自動屏蔽技術,將背景噪聲抑制至0.05pF以下,并通過數(shù)字鎖相放大器提取微弱信號。對于薄膜材料,需選用可調壓力電極(0~50N)以消除氣隙干擾;塊狀材料則需配合專用夾具確保接觸面平整度≤2μm。

該設備通過精準控制電磁場參數(shù)與環(huán)境變量,為電容器介質、電纜絕緣層等材料的研發(fā)與質量控制提供關鍵數(shù)據(jù)支持。其技術核心在于平衡測量精度與抗干擾能力,滿足工業(yè)現(xiàn)場與實驗室的雙重需求。


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